stm32單片機過采樣增加精度的問題

ID:285416 · 發表于 2024-8-17 11:26

想做一個數字萬用表32 的精度0.8mv，后來改用1.8vref 不過是0.4，沒有提高小數點位，無任何意義后來研究了一下過采樣，了，可以提高到14位，這樣就能達到0.01 可以提高一個小數點位，問，這樣的方案是否可行？

ID:344848 · 發表于 2024-8-17 17:12

本帖最后由 donglw 于 2024-8-20 21:55 編輯

增加精度，取決兩個因素，一是基準電壓的精度，二是ADC的位數。

ID:628113 · 發表于 2024-8-17 18:23

stm32 雖然理論采樣 12位，但是實際上有效精度也就 10位。所以直接測量遠達不到 0.8mv 精度。
要達到 0.8mv 需要硬件預放。

ID:309610 · 發表于 2024-8-18 09:57

提高基準電壓精度，多次采樣、3-9次采樣取中位值濾波，再取16次中值累加形成偽16位ADC。精度會有效提高。

ID:1079566 · 發表于 2024-8-18 10:15

過采樣可以增加STM32 ADC的有效位數如12位增加到14位, 但沒有提高精度, 不會提高INL, 也就是線性精度還是10bit.
其實普通使用10bit也夠用了(約0.1%), 想提高性能,應該是把你的測量值,經過放大或衰減到總量程的40~80%范圍內.

ID:1034262 · 發表于 2024-8-20 15:50

STM32的12位ADC有12位精度？能到10位就不錯了。
過采樣有效的前提是：逼近式ADC線性好、比較器增益高、輸入信號帶有幅度為1LSB左右三角波噪聲或白噪聲。這些條件不滿足，過采樣都是白搭，就STM32的ADC性能，沒啥意義。Sigma Delta ADC用一個高性能比較器就可能得到24位的分辨率，高達20位或以上的精度。

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