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標題: NEC應用筆記-改善EMC的PCB設計 [打印本頁]

作者: qrw2213 時間: 2018-12-4 15:49
標題: NEC應用筆記-改善EMC的PCB設計
NEC應用筆記改善EMC的PCB設計，有需要的朋友可以下載，都是經驗的總結！

1.1 概述
此應用筆記的主旨是為硬件和/或PCB設計者在PCB設計過程中提供改善EMC的基本知識。由于詳細的介紹這些設計規則將超過本應用筆記負荷，所以此筆記解釋了大部分設計規則的基本知識。在市場上，有許多處理EMC，防輻射，電纜線路等系統設計的文獻，因此，這里僅涉及少許EMC相關知識。此應用筆記主要目標是介紹NEC微控制器系列的PCB設計。汽車，消費電子和工業應用等產品一般都包含一個或者多個微控制器，隨著這些領域的增長，一些電子模塊通常會出現在大多數應用系統上，并且一些應用和/或系統可能近距離工作，又由于電子應用產品數量的增加，在固定的環境中，電子模塊的密度也在增長，因此，從長遠角度來看，電磁環境躁聲在一個給定的空間內是增長的，如圖曲線1所示，當在電子設備的抗干擾性高于電磁環境躁聲任何點時，電子設備的功能都不將受影響，遺憾的是，現在電子系統大部分具有較高的工作頻率和較低的電平開關門限（由于較低工作電源），防躁聲能力逐漸下降，如圖曲線2。

第二章背景
電磁兼容性（EMC）主要包括兩個相類似的問題，這兩個問題僅是相對而言的。電磁輻射（EME）描述的是器件在測試（DUT）的情況下是躁聲源，而電磁敏感性（EMS）描述的是器件在DUT的情況下是躁聲受害者。根據NEC電子（歐洲）有限公司（以下簡稱NEC EE）的經驗，客戶的主要EMC需求是EME問題，因此本應用筆記主要敘述EME的相關問題。不過，反過來考慮，這里的敘述的大部分措施也是適用EMS的。
2.1 直接半導體遠場輻射
電磁輻射可能或輻射或傳導，后者為噪聲電壓或電流噪聲。一般來講，半導體器件是EME 的來源，如微控制器。眾所周知，越接近噪聲源，電磁輻射的對策越廉價。由于大部分標準的EME 輻射測量是用遠場(r>O)定義的，所以本應用筆記以半導體器件的直接輻射為開端介紹遠場。
流過電線的任何電流都會引起遠場輻射，為了得到可接受的半導體輻射的最差情況，具有極端參數的平直導線(赫茲偶極子)和電流環路應按下列公式計算:
2.1.1 平直導線(赫茲偶極子)
在自由空間(周圍無導電材料)里，據[1]最高電場‘E’在距離為‘R’、電流為‘i’、波長為‘O’、流導線長為‘L’情況下可以按下式計算:

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